發(fā)布時(shí)間: 2024-10-25 點(diǎn)擊次數(shù): 194次
普發(fā)氦質(zhì)譜檢漏儀是一種基于質(zhì)譜原理的檢漏儀器,由真空系統(tǒng)、氦氣充填系統(tǒng)、氣體采樣系統(tǒng)、加熱系統(tǒng)和數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)組成。檢測(cè)時(shí),將被測(cè)物體置于真空室內(nèi),使其內(nèi)部達(dá)到所需真空度后,使用氦氣充填系統(tǒng)向被測(cè)物體外部充填氦氣,并通過(guò)氣體采樣系統(tǒng)將被測(cè)物體周?chē)h(huán)境中的氦氣吸入系統(tǒng)內(nèi)部。在采集過(guò)程中,加熱系統(tǒng)會(huì)對(duì)被測(cè)物體進(jìn)行加熱處理,以促進(jìn)任何潛在泄漏點(diǎn)的放大和釋放氦氣。采集到的氦氣進(jìn)入真空室內(nèi)的質(zhì)譜儀中進(jìn)行分析,通過(guò)檢測(cè)氦氣分子的質(zhì)量/電荷比,來(lái)確定被測(cè)物體是否存在泄漏。
1、靈敏度低
原因分析:可能是由于氦氣輸送管道存在泄漏、檢漏儀保護(hù)罩安裝不正確或檢漏儀探頭的距離和角度不合適。
解決方法:檢查并修復(fù)氦氣輸送管道的泄漏點(diǎn),確保檢漏儀保護(hù)罩正確安裝,調(diào)整檢漏儀探頭的距離和角度至合適位置。
2、檢測(cè)結(jié)果不準(zhǔn)確
原因分析:可能是儀器內(nèi)部存在泄漏、檢測(cè)信號(hào)受到干擾或質(zhì)譜室出現(xiàn)故障。
解決方法:使用噴吹法對(duì)儀器內(nèi)部的密封部位進(jìn)行檢測(cè),找出泄漏點(diǎn)并進(jìn)行修復(fù);排除檢測(cè)信號(hào)的干擾源;若質(zhì)譜室出現(xiàn)故障,需由專(zhuān)業(yè)人員進(jìn)行維修或更換相關(guān)部件。
3、機(jī)械泵不動(dòng)作
原因分析:電源電壓不正常、開(kāi)關(guān)未打開(kāi)、繞組斷路或接地、電機(jī)過(guò)熱等。
解決方法:檢查電源電壓是否正常、開(kāi)關(guān)是否打開(kāi),檢查繞組是否斷路或接地,等待電機(jī)冷卻后嘗試重新啟動(dòng)。
4、分子泵不工作
原因分析:前級(jí)壓力過(guò)高、電路板上的保險(xiǎn)絲燒斷、分子泵葉片或轉(zhuǎn)子被損害等。
解決方法:檢查導(dǎo)致前級(jí)壓力過(guò)高的項(xiàng)目并進(jìn)行處理,更換燒斷的保險(xiǎn)絲或檢查是否有短路現(xiàn)象,若分子泵葉片或轉(zhuǎn)子被損害,需更換新的分子泵。
5、燈絲無(wú)法正常啟動(dòng)
原因分析:機(jī)械泵、分子泵未處于正常工作狀態(tài),離子源航空插座與接線柱開(kāi)路或其接線柱與其他接頭導(dǎo)通造成短路。
解決方法:確保機(jī)械泵、分子泵處于正常工作狀態(tài),檢查離子源航空插座與接線柱是否開(kāi)路,若開(kāi)路則更換燈絲,若不開(kāi)路則檢查其接線柱與其他接頭是否導(dǎo)通,消除短路現(xiàn)象。
6、本底信號(hào)雜亂波動(dòng)
原因分析:放大器出現(xiàn)故障。
解決方法:由專(zhuān)業(yè)人員對(duì)放大器進(jìn)行檢查和維修。
7、檢漏鍵無(wú)效
原因分析:燈絲沒(méi)有啟動(dòng)或燈絲斷、I/O短接插頭未插入儀器后面插座。
解決方法:檢查燈絲是否啟動(dòng)或斷裂,若斷裂則更換燈絲;確保I/O短接插頭插入儀器后面插座。
8、自動(dòng)校準(zhǔn)失敗
原因分析:自動(dòng)校準(zhǔn)設(shè)置錯(cuò)誤、溫度傳感器未接上、靈敏度問(wèn)題等。
解決方法:檢查自動(dòng)校準(zhǔn)設(shè)置是否正確,確保溫度傳感器已接上,清洗質(zhì)譜室以提高靈敏度。
9、工裝設(shè)計(jì)不合理導(dǎo)致檢漏通不過(guò)
原因分析:工裝結(jié)構(gòu)不合理、內(nèi)表面太粗糙、密封設(shè)計(jì)不合理等。
解決方法:重新設(shè)計(jì)工裝,使其結(jié)構(gòu)合理、內(nèi)表面光滑、密封可靠。
10、操作不合理導(dǎo)致故障
原因分析:操作人員判斷錯(cuò)誤導(dǎo)致大量氦氣進(jìn)入質(zhì)譜室造成污染。
解決方法:清理質(zhì)譜室并反復(fù)吸氣排氣以去除污染。